LabVIEW Komponent Test Ölçüm Ve Kalite Kontrol Projesi

LabVIEW Ölçü Kontrol Uygulamaları

Kaynak Dosyaları İndir

Proje Konusu: Yukarıdaki şemada gösterilen devre kartı üzerinde bulunan devre kartının her bir kompenentinin üzerine düşen gerilimleri ölçülerek verilen limit değerleri arasında olup olmadığı test edilecektir.

Ölçüm yolu; LabVIEW yazılım dili kullanılacak ve 1 analog giriş kartı 2 adet röle kartı yardımıyla gerekli ölçümler yapılacaktır.  Toplam 6 noktadan ölçüm yapılacaktır.

Kullanılan malzemeler;

  • DAQ kart (VTK 1050 - Analog giriş kartı( Analog Input Card)
  • DAQ kart (VTK RELAY 4 Yüksek hızlı röle kartı)
  • 2 adet 220 ohm direnç, 4 adet LED
  • Besleme
  • Gerekli bağlantılar için kablolar

Kazanımlar; 

  • Analog sinyal okuma, veri toplama
  • Röle kartı kullanımı
  • Analog kart ve röle kartı senkron kullanımı
  • Proje yönetimi
  • Subvi oluşturma / proje içerisinde kullanılması
  • Frame / sıralı çalıştırma yapısının pekiştirilmesi
  • Limit kontrol
  • Tablo yapısının pekiştirilmesi

Proje Yazılımının Ekran Görüntüleri Aşağıdaki gibi olacaktır;

Ana Program Ekran görüntüsü


Block Diagram ekran görüntüsü 1- Ölçüm hazırlık 

Block Diagram ekran görüntüsü 2- Ölçüm ve Sonuçlar

Block Diagram ekran görüntüsü 3- Raporlama 

Block diagramda bulunan komponent.vi (subvi) ekran görüntüsü

Block diagramda bulunan mux.vi (subvi) ekran görüntüsü

Kullanılan malzemelerin detayları,

1 Adet VTK 1050 Analog Giriş Kartı (Ludre Yazılım Yerli Üretim veri toplama kartı) ürünün özellikleri için buraya tıklayınız


2 Adet VTK Relay 4 yüksek hızlı röle kartı (Ludre Yazılım Yerli Üretim veri toplama kartı) ürünün özellikleri için buraya tıklayınız


Güç kaynağı

Bu uygulamada güç kaynağı olarak pil kullanılmıştır